پراش اشعه ایکس و طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس(پاورپوینت)

پراش اشعه ایکس (XRD) و طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (X-ray photoelectron spectroscopy)

پراش اشعه ایکس (XRD)
X-Ray Diffraction (XRD) یک تکنولوژی پیشرفته و غیر مخرب برای تجزیه و تحلیل طیف گسترده ای از مواد، از جمله مایعات، فلزات، مواد معدنی، پلیمرها، کاتالیزورها، پلاستیک ها، داروها، سرامیک، سلول های خورشیدی و نیمه هادی ها است.
کاربردها:
اندازه گیری فاصله متوسط بین لایه ها یا ردیف اتم ها
تعیین جهت گیری یک کریستال یا دانه
پیدا کردن ساختار کریستالی یک ماده ناشناخته
اندازه گیری اندازه، شکل و فشار داخلی ناحیه های کریستالی
تشخیص فاز ها و قرار دادن آنها در موقعیت خود
اندازه گیری یک فیلم لایه نازک و چند لایه

طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (X-ray photoelectron spectroscopy)
طیف سنجی فوتوالکترون اشعه X (آنالیز XPS)، که تحت عنوان طیف سنجی الکترونی برای آنالیز شیمیایی (ESCA) شناخته شده است، برای تعیین شیمی و ترکیب اتمی کمی مورد استفاده قرار می گیرد. این روش یک تکنیک آنالیز سطحی با حجم نمونه برداری از سطح تا عمق حدود ۷۰-۵۰ آنگستروم می باشد. طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (X-ray photoelectron spectroscopy) گونه‌ای طیف‌سنجی کمی ا‌ست که در آن با تاباندن پرتو ایکس و اندازه گیری همزمان تعداد الکترون آزاد شده در فاصله 1 تا 10 نانومتری از سطح، و انرژی جنبشی این الکترون ها، طیف‌هایی بدست می‌آید که بیانگر برخی ویژگی‌های ماده است. این روش نیاز به خلا بسیار بالا دارد.
موادی که می توانند با این روش آنالیز شوند:
ترکیبات معدنی، آلیاژهای فلزی، نیمه هادی ها، پلیمرها، عناصر خالص، کاتالیزورها، سرامیک، رنگ، کاغذ، جوهر، مواد بیولوژیکی، روغن چسبناک، چسب، مواد اصلاح شده یون.
مواد شیمیایی ارگانیک به طور منظم توسط XPS تحلیل نمی شوند، زیرا آنها به آسانی توسط انرژی اشعه ایکس تخریب می شوند.

نوشته: رویا ایازی نصرآبادی دکتری شیمی آلی رزومه

دانلود فایل پاورپوینت

دیگر مطالب مرتبط با طیف نگاری
برای سهولت در بازبینی وب سایت شیمی کیمیکال و ده ها وب سایت شیمی ایرانی و خارجی دیگر و شبکه های اجتماعی مرتبط و همچنین سهولت در به اشتراک گذاری مطالب آن ها اپلیکیشن رایگان کیمیکال پلاس را نصب کنید.